ZSX Primus IV X射线荧光光谱仪 

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日本理学

ZSX Primus IV

ZSX Primus IV X射线荧光光谱仪

采用上照射设计,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 集合所有ZSX系列的优点



采用上照射设计,再不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。 集合所有ZSX系列的优点:双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。 ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管,保证轻元素分析灵敏度。最先进的mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus IV完全具备迎接21世纪实验室挑战      


Features分析范围:

Be - U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中


ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV是一种管式以上的连续波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪,可以快速定量测定铍(Be)到铀(U)中的主要和次要原子元素,样本类型 - 以最低标准。

新的ZSX指导专家系统XRF软件

ZSX指导为XRF测量和数据分析的各个方面提供支持。准确的分析只能由专家进行吗?不 - 那是过去。ZSX Guidance软件具有内置的XRF专业知识和熟练的专家知识,可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品,分析组分和标准组成的基本信息。具有最小重叠,最佳背景和校正参数(包括线重叠)的测量线可以借助质谱自动设置。

卓越的轻元素XRF表现与倒置光学为可靠性的优越

ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护,再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有卓越的性能和分析最复杂样品的灵活性,采用30微米的管子,这是业界最薄的终端窗口管,可提供出色的轻元素(低Z)检测限。

映射和多点XRF分析

结合最先进的测绘包装来检测均匀性和包裹体,ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究,以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

使用EZ-scan软件的SQX基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下对未知样品进行XRF元素分析。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件,它可以提供最准确,最快速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应,包括线重叠。SQX还可以校正光电子(光和超轻元素),不同气氛,杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

  • 从Be到U的元素分析

  • ZSX指导专家系统软件

  • 数字多通道分析仪(D-MCA)

  • EZ分析界面进行常规测量

  • 管道上方的光学器件使污染问题最小化

  • 占地面积小,使用的实验室空间有限

  • 微量分析可分析小至500μm的样品

  • 30μ管提供卓越的轻元素性能

  • 映射功能的元素地形/分布

  • 氦气密封意味着光学器件始终处于真空状态


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